Olika typer av elektriska smältskador har initierats på isolerade respektive oiso-lerade kopparledare såväl i normal atmosfär som i brandatmosfär. Ledarna har varit anslutna till växel- eller likspänningskällor. Skadeställen och smältpärlor uppkomna vid elektriska överslag och från uppvärmning har studerats främst avseende syreinnehåll med hjälp av metallmikroskop, svep elektronmikroskop och Augerelektronspektrometer. Någon säker allmän metod att särskilja primära skador, som har initierat brand från sekundära skador, som uppkommit på grund av brand, har inte kunnat utarbetas. För vissa typer av skador indikerar dock en metallografisk metod möjligheter att särskilja en del av de primära skadorna från de sekundära. En metod att särskilja smältpärlor från primära respektive sekundära skador med hjälp av Augerelektronspektroskopiska studier har patenterats i USA. Våra studier visar dock, att ej heller denna metod är helt säker. Syreinnehåll i ytskiktet hos en smältpärla beror inte enbart av skadans typ utan även av överslagsställets termiska för- och efterhistoria.